Tấm nền thạch anh nóng chảy có rãnh chữ nhật 18+1 120x5x3.5mm Bộ giữ linh kiện quang học

Tấm đế rãnh chữ nhật 18+1 bằng thạch anh là một nền tảng thạch anh nóng chảy được gia công chính xác, được thiết kế để giữ các bộ phận quang học, mẫu thử nghiệm phổ và mẫu phân tích vi mô. Với kích thước tổng thể 120x5x3.5mm, tấm đế có 18 rãnh chữ nhật tiêu chuẩn cộng với 1 rãnh dự phòng, mỗi rãnh được gia công với chiều rộng đồng nhất 1.8mm và độ sâu gọn gàng, nhất quán. Bề mặt đánh bóng chính xác cao hai mặt mang lại độ phẳng vượt trội và lớp hoàn thiện chống trầy xước, bảo vệ các chi tiết gia công mỏng manh trong quá trình nạp và dỡ. Được sản xuất từ thạch anh có độ tinh khiết cao, tấm đế có khả năng chống nhiệt độ cao và độ ổn định hóa học tuyệt vời, làm cho nó trở thành một nền tảng bền bỉ và đáng tin cậy cho các ứng dụng kiểm tra quang học chính xác và phòng thí nghiệm.

• Độ sâu rãnh gọn gàng và đồng nhất: Tất cả 18 rãnh tiêu chuẩn và khe dự phòng đều được gia công với độ sâu và hình dạng nhất quán, đảm bảo các chi tiết được đặt đều nhau.
• Thiết kế 18+1 rãnh: Rãnh dự phòng bổ sung cung cấp dung lượng linh hoạt cho các mẫu bổ sung hoặc vị trí thay thế trong quá trình thử nghiệm.
• Đánh bóng chính xác cao hai mặt: Cả hai mặt đều được hoàn thiện theo tiêu chuẩn mịn, chống trầy xước, bảo vệ các bộ phận quang học và mẫu khỏi bị hư hại.
• Độ tinh khiết cao và khả năng chống nhiệt độ cao: Thân thạch anh nóng chảy chịu được nhiệt độ cao mà không bị biến dạng, mềm hoặc nhiễm bẩn.
• Độ ổn định hóa học tuyệt vời: Tấm đế chống ẩm, axit yếu và các chất tẩy rửa thông thường, giữ cho bề mặt rãnh sạch sẽ và đáng tin cậy trong thời gian sử dụng lâu dài.

Tấm đế rãnh chữ nhật 18+1 bằng thạch anh được thiết kế cho môi trường phòng thí nghiệm và quang học, nơi yêu cầu đặt các bộ phận nhỏ một cách chính xác và ổn định. Nó được sử dụng rộng rãi làm giá đỡ bộ phận quang học, giữ chặt các thấu kính, gương và các phần tử lọc trong các rãnh được gia công trong quá trình kiểm tra và lắp ráp. Trong thiết bị kiểm tra phổ, tấm đế đặt các mẫu vi mô ở chiều cao và hướng nhất quán, cải thiện khả năng lặp lại của các phép đo phổ. Nền tảng này cũng đóng vai trò là nền tảng đặt mẫu vi mô cho các thiết bị phân tích, cung cấp một bề mặt sạch sẽ, phẳng và trơ về mặt hóa học, sẽ không ảnh hưởng đến kết quả đo. Nhờ dung sai rãnh chặt chẽ và độ phẳng vượt trội, tấm đế đặc biệt phù hợp với các ứng dụng kiểm tra quang học chính xác đòi hỏi độ chính xác về kích thước và xử lý không trầy xước các chi tiết có giá trị.

• Dung sai kích thước chặt chẽ cho rãnh: Chiều rộng và độ sâu rãnh được kiểm soát trong giới hạn hẹp, đảm bảo đặt đều và định vị đáng tin cậy các bộ phận.
• Độ phẳng vượt trội: Đánh bóng chính xác cao mang lại bề mặt tham chiếu phẳng hỗ trợ các phép đo quang học ổn định và có thể lặp lại.
• Chống trầy xước trong quá trình xử lý chi tiết: Lớp hoàn thiện đánh bóng mịn giảm thiểu nguy cơ làm trầy xước thấu kính, gương và mẫu trong quá trình nạp và dỡ.
• Lý tưởng cho kiểm tra quang học chính xác: Sự kết hợp giữa vật liệu có độ tinh khiết cao, gia công chính xác và hình học ổn định làm cho tấm đế trở thành một nền tảng đáng tin cậy cho các quy trình kiểm tra khắt khe.