305 Tấm Kính Thạch Anh Quang Học Độ Phẳng Cao Silica Nung Chảy Borosilicate Không Kiềm

Tấm Kính Quang Học Độ Phẳng Cao 305, còn được gọi là kính độ phẳng cao Model 305, là một tấm tham chiếu quang học được thiết kế để cung cấp độ phẳng và song song cực cao cho các ứng dụng kiểm tra và hiệu chuẩn chính xác. Tấm nền có sẵn bằng silica fused, kính không kiềm hoặc thủy tinh borosilicate, và có thể được cắt tùy chỉnh thành các định dạng dải, vuông hoặc tròn để phù hợp với yêu cầu thiết bị cụ thể. Với tiêu chuẩn độ phẳng cực cao Cấp 305, tấm này thể hiện độ cong tối thiểu và độ song song chính xác, cung cấp một đường cơ sở hình học ổn định cho các hệ thống thị giác có độ chính xác cao và hiệu chuẩn AOI. Các bề mặt được đánh bóng siêu mịn hai mặt không có vết trầy xước, lỗ, bọt khí và đá, đảm bảo truyền ánh sáng đồng nhất mà không bị nhiễu sáng lạc, cho phép đo lường quang học đáng tin cậy.

• Độ phẳng cực cao Cấp 305: Độ cong tấm tối thiểu và độ song song chính xác hỗ trợ hình ảnh có độ chính xác cao và hiệu chuẩn AOI với độ chính xác tham chiếu đáng tin cậy.
• Đánh bóng siêu mịn hai mặt: Bề mặt không trầy xước, không lỗ và không bọt khí cung cấp khả năng truyền ánh sáng đồng nhất mà không bị nhiễu sáng lạc.
• Vật liệu giãn nở nhiệt thấp: Biến dạng nhẹ dưới sự thay đổi nhiệt độ giúp giữ độ chính xác của điểm chuẩn ổn định trong quá trình sử dụng lâu dài.
• Độ ổn định hóa học và nhiệt tuyệt vời: Tấm này chống lại các chất tẩy rửa axit và kiềm cũng như nhiệt độ cao, không có cặn có thể làm nhiễm bẩn phôi.
• Cạnh vát chính xác: Các cạnh không bị sứt mẻ và không có gờ giúp tránh làm trầy xước ống kính và các mảnh thử nghiệm trong quá trình xử lý.

Tấm Kính Quang Học Độ Phẳng Cao 305 được thiết kế cho các môi trường kiểm tra và hiệu chuẩn chính xác cao cấp, đòi hỏi một tham chiếu quang học cực kỳ ổn định. Nó được sử dụng rộng rãi làm tấm tham chiếu hiệu chuẩn cho các hệ thống kiểm tra thị giác có độ chính xác cao, cung cấp một bề mặt phẳng đã được xác minh để xác nhận độ chính xác của máy ảnh và công cụ đo lường. Trong thiết bị kiểm tra quang học tự động AOI, tấm này đóng vai trò là tiêu chuẩn cơ sở để xác minh độ phẳng và song song, giúp phát hiện các lỗi hệ thống trong quy trình kiểm tra. Vật liệu này cũng hoạt động như một tham chiếu nền tảng quang học cho các thiết bị phòng thí nghiệm yêu cầu một đế sạch, ổn định và có độ giãn nở nhiệt thấp. Với các tùy chọn cắt dải, vuông và tròn tùy chỉnh, tấm này có thể được điều chỉnh cho các hình dạng thiết bị cụ thể trong khi vẫn duy trì hiệu suất độ phẳng Cấp 305 như nhau trên tất cả các định dạng.

• Cấp 305 cho kiểm tra cao cấp: Mức độ phẳng cực cao đáp ứng các yêu cầu kiểm tra chính xác khắt khe, với độ cứng tốt và hiệu suất chống uốn cong.
• Tùy chỉnh đầy đủ có sẵn: Độ dày, rãnh, khoan, phủ quang học và đánh dấu thang đo đều có thể được tùy chỉnh theo thông số kỹ thuật của khách hàng.
• Độ nhất quán cao trong sản xuất hàng loạt: Độ phẳng được duy trì đồng nhất trên các lô, cho phép các tấm có thể được thay thế giữa các thiết bị khác nhau mà không cần hiệu chuẩn lại.
• Độ chính xác ổn định sau khi làm sạch lặp đi lặp lại: Bề mặt bền và vật liệu ổn định hóa học đảm bảo độ chính xác đo lường không bị suy giảm sau các chu kỳ làm sạch lặp đi lặp lại.